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中國計量測試學會集成電路測試專業委員會首屆集成電路測試高峰論壇召開
2019-08-21 | 【 【打印】【關閉】

  2019年8月15日,中国计量测试学会集成电路测试专业委员会首届集成电路测试高峰论坛在北京九华山庄酒店隆重组织。高峰论坛在中国计量测试学会马爱文秘书长的致词中拉开帷幕,论坛由集成电路测试专委副主任兼秘书长、中國科學院计算技术研究所李华伟研究员主持,集成电路测试专委主任、计算机体系结构国家重点实验室常务副主任李晓维研究员、日本九州工业大学温晓青教授(IEEE Fellow)、新竹清华大学黄锡瑜教授、武汉大学何怡刚教授四位讲者进行了精彩报告,来自清华大学、北京大学、中國科學院、复旦大学、同济大学、上海交通大学、合肥工业大学等集成电路测试技术领域相关研究所、高校的领导专家和来自Advantest、美国国家仪器、摩尔精英、苏州华兴源创等集成电路测试技术领域相关企业的技术专家50余人参加了此次论坛。

  論壇在李華偉副主任的主持下開啓,首先她爲大家詳細介紹了論壇背景及每位演講嘉賓的學術履曆與學術任職,並簡明扼要的提煉了演講內容。


集成電路測試專委副主任李華偉研究員主持會議

  中國計量測試學會馬愛文秘書長發表講話,他表示,集成電路測試專委成立一年以來作出了許多行之有效的工作與成績。集成電路測試是國家大力發展芯片産業宏偉藍圖的核心環節,中國計量測試學會將一如既往的大力支持專委發展,積極組織各類學術活動,促進成員交流、助推産業升級。


中國計量測試學會馬愛文秘書長講話

  集成電路測試專委主任、計算機體系結構國家重點實驗室常務副主任李曉維研究員帶來題爲《我國VLSI測試技術發展的回顧與展望》報告,報告中李曉維主任以中科院計算所爲例介紹了集成電路測試技術在中科院計算所從提出到發展的曆程,包括早期在中科院計算所研制大型機時測試技術發揮的关键作用,以及在龍芯等芯片設計和測試過程中曾取得過的矚目成績,並反思了過去十多年來錯失過的研究節點,對未來集成電路測試技術面臨的前沿難題做出了展望。該報告在分享經驗的同時也希望總結教訓,促進專委向有深度有布局有前瞻的方向更好的發展。


集成電路測試專委主任李曉維研究員做論壇報告

  日本九州工业大学温晓青教授带来题为《LSI Test: from Research to Business》的报告,报告中温晓青教授指出大规模集成电路测试是一个成功的半导体行业的核心技术领域,由于它在落实大规模集成电路产品的质量、可靠性、安全性和成本目标方面不可或缺。他从研究和商业的角度对大规模集成电路测试进行了全面的概述,并就大规模集成电路测试所面临的主要挑战和机遇进行了阐述。


日本九州工業大學溫曉青教授做論壇報告

  新竹清华大学黄锡瑜教授带来题为《A Detective Story of the Clock Network in an IC — Finding the Timing Failure Threats》的报告,报告中指出对于应用于安全关键应用的集成电路,通常需求非常高的制造质量,以确保在现场操作时几乎为零的故障率。要落实这一目标,不仅需求对主要功能块(如CPU和内存),而且还需求对时钟网络等片上基础设施进行全面测试。然而,时钟网络不仅设计困难,而且测试具有挑战性。对于具有严厉时钟偏差要求的高性能设计,时钟网络中的小缺陷可能导致意外故障,因此需求在制造测试期间进行识别。该报告特别强调了针对时钟网络中是否存在小时延故障的测试技术研究,实验结果表明,能够检测到小于100ps的小时延故障。


新竹清華大學黃錫瑜教授做論壇報告

  武漢大學何怡剛教授帶來題爲《基于深度學習的模擬電路故障診斷與預測關鍵技術》的報告,報告中提到,他帶領團隊研究了模擬電路主要元件在退化過程中參數變化的規律,提出了可應用于模擬電路的特征參量優選方法,以及定量地表征模擬電路元件的退化程度。提出了粒子濾波算法和相關向量機算法的優化方法,並基于優化的粒子濾波算法和相關向量機算法,提出了精度高和實時性強的模擬電路故障診斷與預測算法。上述研究成果對于提高複雜電子系統可靠性、安全性和任務成功性,提高保障效能、降低保障費用具有关键意義。


武漢大學何怡剛教授做論壇報告

  之後進入到Panel環節,四位專家就《集成電路測試教育教學與培訓》一題展開討論並與現場人員互動。期間教材的稀缺性、國內教材的規範性,招生難、留人難,理論與實踐如何更好的相結合等多個問題被相繼提出,專家們群策群力,在引入實時案例、加大國外教材翻譯力度、鼓勵集成電路教職人員錄制教課視頻進行網課推廣,與國內外知名企業合作開展實踐課程等方面提出了許多切實可行的方案與展望,對集成電路測試專委的未來工作方向提出了期望。論壇在熱烈的討論中圓滿結束。


Panel:集成電路測試教育教學與培訓

 
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